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发布时间2018-12-20

产品描述:荧光法顶空分析仪最小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法 诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件(负压)有要求的采样分析方式。

产品概述

荧光法顶空分析仪

型号:X-325i

X-325i是一款常用于制药行业集顶空残氧/溶解氧的多功能分析仪。这款设备是基于光学感应的荧光衰减法检测原理,顶空分析过程不对样品进行采样,对顶空样气体积及顶空条件(如负压)无要求,最小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法 诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件(负压)有要求的采样分析方式。

使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT ,可以实现无损检测分析,应用于长期的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。

荧光法顶空分析仪特征:

● 零样气消耗,只需要极少的样气量,最少0.1ml

● 可实现对顶空氧及液体溶解氧同时分析检测

● 自动生成数据随时间变化曲线

● 内置温度和压力补偿

● 支持无损检测分析,实现留样分析

● 传感器免维护,无需更换

● 设备零维护,零耗材

● 数据自动无限储存,PDF导出

 

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